Máy phân tích lớp phủ dầu silicon XRF-Z8 là máy quang phổ huỳnh quang tia X để phát hiện nguyên tố silicon, có thể được sử dụng rộng rãi trong việc quản lý quy trình và chi phí sản phẩm trong ngành phủ dầu silicon, sản phẩm này không chỉ có thể phân tích màng PET mà còn Lượng phủ dầu silicon của glassine, giấy tráng và giấy KRAFT, sản phẩm còn hỗ trợ bàn xoay đa vị trí tùy chọn, có thể phát hiện 10 mẫu cùng một lúc sau khi nạp mẫu, Tốc độ phát hiện nhanh, độ ổn định tốt và độ chính xác cao.
Dải Thành phần
S(No.16)~U(No.92
Giới hạn phát hiện
≤2ppm
Vận hành dễ dàng
One-click testing
Ứng dụng rộng rãi
RoHS/ EN71/ 1.0/halogen/các loại hợp kim
ổn định và linh hoạt
Phần mềm độc quyền cho kết quả đo vượt trội
Hậu mãi
Bảo hành 2 năm
Hỗ trợ kỹ thuật 7 ngày/ tuần
Reviews
There are no reviews yet.