Ứng dụng của công nghệ tia X trong phân tích vật liệu rất rộng rãi. Chúng tôi phân loại tia X theo hai đặc tính chính của chúng: tán xạ và hấp thụ
SAXS: Tán xạ tia X góc nhỏ, là một kỹ thuật nghiên cứu hệ thống hạt để định lượng sự phân bố kích thước và hình dạng của các hạt.
WAXS: Tán xạ tia X góc rộng, là một kỹ thuật phát hiện cấu trúc tinh thể của các hạt.
XRD: Nhiễu xạ tia X, là một kỹ thuật được sử dụng để phân tích cấu trúc tinh thể.
IXS: Tán xạ tia X không đàn hồi. Trong số đó, Tán xạ không đàn hồi cộng hưởng (RIXS: Resonant IXS) là một trong những công cụ mạnh mẽ nhất để nghiên cứu cấu trúc điện tử của vật chất.
X-ray CT: Chụp cắt lớp điện toán tia X, được sử dụng rộng rãi trong kiểm tra an ninh, y tế và các ngành công nghiệp khác.
XRF: Huỳnh quang tia X.
XPS: Quang phổ quang điện tử tia X, đây là một kỹ thuật phân tích kính hiển vi cho các vật liệu và linh kiện điện tử.
